| 品牌 | 昊量光電 | 儀器類型 | 實驗室型 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 面議 | 儀器種類 | 傅立葉變換型(FT) |
| 應用領域 | 綜合 | 型號 | Linza 2752 |
| 測量模式 | 透過率 | 波長范圍,nm | 2700-5200 |
| 波長掃描速度,nm/min | 3000(取樣間距5nm時) | 單色儀光學方案 | Czerny-Turner 光柵系統 |
| 光學元件 | 鏡片:Al+MgF2,透鏡:CaF2 | 參考通道 | 具有參考通道 |
| 波長采樣間距,nm | 0.5-100 | 光斑尺寸,mm | 6.0×5.5 |
中紅外分光光度計-LINZA 2752系列
直測曲面透鏡,大容量樣品倉與滑動式探測器,中紅外快速檢測
中紅外分光光度計-LINZA 2752系列 2752 是為中波紅外(MWIR)波段設計的高性能分光光度計,有效波長范圍覆蓋 2.7 μm–5.2 μm(2700–5200 nm),主要用于單枚透鏡及多透鏡組件(物鏡)的軸上透射測量。大多數光學元件均為透鏡,形狀涵蓋凸面、凹面、柱面和非球面等多種類型。透鏡在真空鍍膜室中完成鍍膜后,通常使用平面參考樣品來監控工藝過程。然而曲面透鏡上的鍍膜特性往往與平面參考樣品存在偏差,這使得了解真實透鏡的透射率變得至關重要。以此行業難題為出發點,LINZA 2752 的設計目標是對實際曲面光學元件進行直接測量,打破僅依賴平面參考樣品進行性能評價的傳統局限。這款設備配備了寬敞的樣品倉和滑動式探測器模塊,能夠測量單枚透鏡直徑 10 mm 至 150 mm 的透鏡,以及端到端總長可達 680 mm 的完整透鏡組件(物鏡),涵蓋從透鏡鍍膜完成后到組件交付全線階段的光譜性能可追溯。該儀器主要應用于單透鏡測量、多透鏡系統檢測、鍍膜基底評價以及紅外觀測、紅外傳感系統的性能驗證,是光學制造生產線和產品出廠前檢驗環節的理想工具,可顯著縮短生產節拍周期,提高質檢效率。

規格參數:
Linza2752分光光度計 | |
參數 | 描述 |
型號 | Linza 2752 |
光學配置 | |
測量模式 | 透過率 |
波長范圍,nm | 2700-5200 |
波長掃描速度,nm/min | 3000(取樣間距5nm時) |
單色儀光學方案 | Czerny-Turner 光柵系統 |
光學元件 | 鏡片:Al+MgF2,透鏡:CaF2 |
參考通道 | 具有參考通道 |
波長采樣間距,nm | 0.5-100 |
光斑尺寸,mm | 6.0×5.5 |
光譜分辨率,nm | 2 |
波長精度,nm | 1 |
波長重復精度,nm | ±0.5 |
雜散光等級,%Max | 0.002 |
測試精度 | NRC NG11 SRM:±0.06Abs(0.13Abs); |
±0.0043Abs(0.49Abs);±0.0031Abs(0.82Abs);±0.002Abs(1.0Abs) | |
測試重復精度 | NRC NG11 SRM:±0.0033Abs(0.13Abs); |
±0.0028Abs(0.49Abs);±0.0012Abs(0.82Abs);±0.0011Abs(1.0Abs) | |
基線穩定性,%/小時 | ±0.3% |
光源 | 紅外光源 |
樣品倉 | |
鏡片、鏡頭直徑范圍mm | 10~200 |
鏡片焦距,mm | -20…+20 |
透鏡組件極限長度,mm | 680 |
接口,尺寸和重量 | |
接口 | USB2.0 |
功率 | 110W |
電源 | 110-220V,AC,50-60HZ |
寬度×深度×高度,mm | 1060×410×420 |
凈重,kg | 86 |
產品特點:
大容量樣品倉與滑動式探測器
專為曲面光學元件設計的直接測量方案
廣泛的兼容性
高效的光譜掃描速度
高精度光學參數
參考通道設計
專用軟件支持
應用方向:
LINZA 2752 主要面向中波紅外光學元件的研發與生產質檢。其核心應用涵蓋以下領域:
紅外光學透鏡鍍膜表征: 對鍍膜后的單枚透鏡(凸透鏡、凹透鏡、非球面透鏡)、多透鏡組件及完整物鏡進行軸上透射光譜測量,評估增透膜、高反膜等紅外鍍膜在中波紅外波段(2.7–5.2 µm)的實際光學性能,為鍍膜工藝優化提供直接數據。
紅外成像與傳感光學系統驗證: 適用于紅外熱成像儀、中波紅外探測器、MWIR 光學傳感設備中的透鏡組件性能評估,確保組裝后的整機系統在中波紅外觀測波段達到設計預期的透射指標。
光學鏡片來料檢驗: 在鏡片供應鏈中,采用 LINZA 2752 對采購的中波紅外透鏡與鏡頭組件進行全檢或抽樣檢測,確保入庫光學元件的中波紅外透射率符合采購技術規范要求,從源頭控制光學系統裝配質量的一致性。
質量認證與出貨前檢驗: 為光學透鏡和物鏡制造商在生產線上配備 LINZA 2752 中波紅外光譜測量能力,在產品交付前對成品進行出廠檢測與認證,大幅降低客戶端的批次性退貨風險。
光學材料篩選: 對硅(Si)、鍺(Ge)、硫化鋅(ZnS)、硒化鋅(ZnSe)、硫系玻璃等中波紅外光學材料的基底材料和鍍膜元件進行透射光譜表征,篩選合格的光學材料用于紅外光學系統的設計與裝配。




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