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昊量/星朗紅外波段分光光度計(jì)-RT 7514系列

簡(jiǎn)要描述:昊量/星朗紅外波段分光光度計(jì)-RT 7514系列,長(zhǎng)波紅外鍍膜精密檢測(cè),變角度+偏振,一步到位,PHOTON RT 7514 是一款專用于長(zhǎng)波紅外(LWIR,7.5–14 μm)波段的色散型分光光度計(jì),由 EssentOptics 設(shè)計(jì)

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2026-06-18
  • 訪  問  量:48
詳細(xì)介紹
品牌其他品牌自動(dòng)程度自動(dòng)波長(zhǎng)
接收器類光電二極管陣列儀器結(jié)構(gòu)雙光束
價(jià)格區(qū)間面議應(yīng)用領(lǐng)域綜合
有效波長(zhǎng)范圍7.5 – 14.0 μm光學(xué)配置透過率%T、反射率%R
內(nèi)置偏振片范圍7.5 – 14.0 μm單色器光學(xué)方案Czerny-Turner
光學(xué)元件金鏡、ZnSe透鏡(帶增透膜)透過率測(cè)量入射角0 – 60°可變
反射率測(cè)量入射角10°、30°、45°、60°樣品臺(tái)轉(zhuǎn)角精度0.01°
光束位移補(bǔ)償40 mm偏振測(cè)量方式S、P、(S+P)/2
光度精度±0.2%凈重51 kg

昊量/星朗紅外波段分光光度計(jì)-RT 7514系列

長(zhǎng)波紅外鍍膜精密檢測(cè),變角度+偏振,一步到位

PHOTON RT 7514 是一款專用于長(zhǎng)波紅外(LWIR,7.5–14 μm)波段的色散型分光光度計(jì)。該儀器以 Czerny?Turner 光柵單色器為核心,采用金鏡和 ZnSe 透鏡光學(xué)元件,主要用于平面光學(xué)元件及鍍膜樣品的透射率與反射率測(cè)量。PHOTON RT 7514 支持 0~60° 變角度入射測(cè)量,并內(nèi)置高對(duì)比度偏振片,可自動(dòng)完成 S 偏振、P 偏振及平均偏振光譜采集。其突出的自動(dòng)光束位移補(bǔ)償技術(shù)(40 mm)確保了高角度下偏振測(cè)量的精度與速度。借助低噪聲制冷 MCT 探測(cè)器和優(yōu)化的背景輻射管理,儀器具備非常好的基線穩(wěn)定性(±0.3%/h)和重復(fù)性(光度重復(fù)精度 ±0.1%),雜散光水平低于 0.2%。整機(jī)全自動(dòng)運(yùn)行,適用于國(guó)防、軍工、航空航天及紅外光學(xué)制造領(lǐng)域中的鍍膜表征、材料篩選、鍍膜均勻性分析和質(zhì)量認(rèn)證。



昊量/星朗紅外波段分光光度計(jì)-RT 7514系列參數(shù)規(guī)格:

參數(shù)指標(biāo)
有效波長(zhǎng)范圍7.5 – 14.0 μm
光學(xué)配置透過率%T、反射率%R
內(nèi)置偏振片范圍7.5 – 14.0 μm
單色器光學(xué)方案Czerny-Turner
光學(xué)元件金鏡、ZnSe透鏡(帶增透膜)
透過率測(cè)量入射角0 – 60°可變
反射率測(cè)量入射角10°、30°、45°、60°(可更換樣品臺(tái))
參考樣品金鏡
樣品臺(tái)轉(zhuǎn)角精度0.01°
光束位移補(bǔ)償40 mm
偏振測(cè)量方式S、P、(S+P)/2
波長(zhǎng)采樣間隔5 – 100 nm
光斑尺寸(非偏振光)2.0 × 6.0 mm(寬×高)
極限光譜分辨率(非偏振光)15 nm
波長(zhǎng)準(zhǔn)確度±4.0 nm
波長(zhǎng)重復(fù)精度±2.0 nm
光度精度(47% T, λ0=10.6μm, AOI=4°, 樣品厚度3.0 mm)±0.2%
光度重復(fù)精度±0.1%
基線穩(wěn)定性(7.8 – 13.0 μm)±0.3%/小時(shí)
雜散光水平(7.5 – 12.0 μm)<0.2%
光源紅外燈、HgAr波長(zhǎng)校準(zhǔn)驗(yàn)證燈
樣品尺寸150 × 200 mm
樣品厚度40 mm
操作方式全自動(dòng)
接口USB 2.0
功耗110 W
電源110 – 220 V,AC,50 – 60 Hz
外形尺寸(寬×深×高)760 × 380 × 350 mm
凈重51 kg


該產(chǎn)品產(chǎn)品特點(diǎn):


  • 專為長(zhǎng)波紅外波段設(shè)計(jì):有效波長(zhǎng)范圍覆蓋 7.5–14 μm,滿足紅外光學(xué)鍍膜的高精度檢測(cè)需求。

  • 變角度與偏振測(cè)量:支持 0–60° 變角度入射,內(nèi)置高對(duì)比度寬帶偏振片,可自動(dòng)完成 S 偏振、P 偏振及平均偏振光譜采集,無需外部附件。

  • 自動(dòng)光束位移補(bǔ)償:內(nèi)置光束位移補(bǔ)償技術(shù)(補(bǔ)償量 40 mm),自動(dòng)校正高角度測(cè)量時(shí)的光束偏移,確保偏振測(cè)量的精度與效率。

  • 高精度與高穩(wěn)定性:采用低噪聲制冷 MCT 探測(cè)器,結(jié)合優(yōu)化的背景輻射管理,基線穩(wěn)定性 ≤±0.3%/h,連續(xù) 60 次掃描信號(hào)偏差<0.2%;光度精度 ±0.2%,光度重復(fù)精度 ±0.1% 。

  • 低雜散光水平:雜散光<0.2%,確保測(cè)量數(shù)據(jù)的可靠性。

  • 全自動(dòng)化操作:支持無人值守的預(yù)設(shè)測(cè)量序列,大幅降低人工誤差。

  • 靈活的樣品兼容性:樣品尺寸可達(dá) 150×200 mm,厚度可達(dá) 40 mm,適配多種平面光學(xué)元件。

  • 可靠的光學(xué)系統(tǒng):Czerny-Turner 光柵單色器,金鏡和 ZnSe 透鏡(帶增透膜),保證優(yōu)異的光學(xué)性能。

  • 內(nèi)置校準(zhǔn)光源:配備紅外燈和 HgAr 波長(zhǎng)校準(zhǔn)驗(yàn)證燈,確保波長(zhǎng)精度。

  • 堅(jiān)固耐用的整機(jī)設(shè)計(jì):尺寸 760×380×350 mm,凈重 51 kg,結(jié)構(gòu)穩(wěn)定,適用于研發(fā)與生產(chǎn)環(huán)境。


該產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域:


  • 國(guó)防、軍工、航空航天:紅外光學(xué)元件的計(jì)量與檢測(cè)。

  • 紅外光學(xué)鍍膜表征:測(cè)量平面光學(xué)元件和鍍膜反射鏡在長(zhǎng)波紅外波段的透射率與反射率,支持變角度(0?60°)和偏振控制(S、P偏振及其平均),為增透膜、高反膜等鍍膜工藝優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支撐。

  • 紅外光學(xué)材料與元件檢測(cè):適用于 ZnSe、Ge、硫系玻璃等材料的透過率和反射率測(cè)試,服務(wù)于紅外熱成像、紅外制導(dǎo)、紅外探測(cè)等系統(tǒng)的光學(xué)元件篩選。

  • 鍍膜均勻性與光譜均勻性分析:結(jié)合電動(dòng) XY 樣品臺(tái)選件,進(jìn)行二維掃描測(cè)繪,評(píng)估鍍膜在平面上的空間均勻性。

  • 紅外光學(xué)系統(tǒng)研發(fā)與質(zhì)量控制:為光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)提供鍍膜元件的精確光譜數(shù)據(jù),支持從光學(xué)仿真到裝調(diào)的全鏈條驗(yàn)證;同時(shí)用于批量生產(chǎn)中的 QA/QC 檢測(cè)、入庫(kù)檢驗(yàn)和出廠認(rèn)證。



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