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Product catalog

激光測量設備

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Timegate時間門控拉曼光譜儀PicoRaman M3
Timegate時間門控拉曼光譜儀PicoRaman M3，具有多種潛在應用。它可以作為實驗室中的經典臺式系統使用。但當與顯微鏡連接或在帶有板式讀數器的高通量設置中使用時，也能取得令人印象深刻的結果。

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微型布里淵光譜儀
微型布里淵光譜儀，ALBA 通過標準單模保偏（SM/PM）光纖實現光學連接，兼容傳統光譜儀和顯微鏡，并能輕松集成，通過全光學、無標記的布里淵彈性成像技術擴展其功能，實現三維力學分析。

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中紅外光束分析儀
中紅外光束分析儀借助我們可選的光束輪廓分析軟件，可以立即顯示、導出和保存不同格式的強度分布和輪廓，以便進行后續評估。

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quDIS六自由度激光干涉測量系統
quDIS六自由度激光干涉測量系統是一種用于校準和評估各種運動系統和機械的多軸精度的儀器。通常用于制造、機器人、數控機床和坐標測量機等應用領域，以保持設備的精度和可靠性。

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相位偏折測試系統
相位偏折測試系統，是基于相位測量偏折法的高精度 3D 表面檢測方案，覆蓋平面、曲面、多件并行與機器人引導等場景，單次測量即可完成形狀偏差與表面缺陷檢測，適配汽車、3C、半導體等行業的微米級質量控制。

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AR近眼顯示測試系統AUS-6100-AR70L
AR近眼顯示測試系統AUS-6100-AR70L系統核心功能包括測量亮度、色度、對比度、視場角（FOV）和眼盒（eye-box）等關鍵參數，同時評估圖像均勻性、畸變、清晰度（如調制傳遞函數，MTF）、漏光/鬼影以及雙目融合/視差，這些指標直接影響圖像質量和視覺舒適度。?

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高性價比干涉式激光尺
高性價比干涉式激光尺摒棄了傳統激光干涉儀的分立光學器件結構，將激光器、調制器、光電探測器和濾波器等眾多光學元件集成至單一光學芯片上，并與激光二極管、探測器陣列和光學透鏡結合，形成小型化的激光傳感模組。

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H9/H9M 白光干涉表面輪廓儀
Heliotis H9/H9M 均為工業級白光干涉（WLI）3D 表面輪廓儀，基于低相干寬帶光在零光程差附近形成高對比度條紋，通過 Z 軸掃描與像素級相干峰 / 相位解包裹重構 3D 形貌，實現非接觸、納米級精度測量。H9/H9M 白光干涉表面輪廓儀

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IQFROG超短脈沖分析儀
IQFROG超短脈沖分析儀（高靈敏性，光纖耦合輸入）是基于頻率分辨光學開關技術（FROG）實現對脈沖激光在時域和頻域的強度和相位測量，從而實現對脈沖激光信號的精確表征。IQFROG超短脈沖測量儀配有大形成電動延時平臺和高分辨率光譜儀，可實現up to 50ps脈寬的啁啾脈沖測量;對于傅里葉極限脈寬，其脈寬可測范圍能覆蓋0.3-10ps。

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TopMap Micro.View 白光干涉儀（3D形貌儀）
Polytec GmbH提供完整的光學表面計量解決方案，用于工程表面質量檢測和形狀評估 - 無論是數控加工精密零件的平面度或臺階高度、光滑光學元件的翹曲和形狀，還是紋理、光潔度或 MEMS 和微結構分析。TopMap Micro.View 白光干涉儀（3D形貌儀）

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TopMap Metro.Lab 白光干涉儀（3D形貌儀）
Polytec旗下的 TopMap Metro.Lab，是一款高精度白光干涉儀（相干掃描干涉儀），以其大垂直測量范圍與納米級分辨率脫穎而出。這一特性，使得 Metro.Lab 形貌測量系統在針對大面積表面及結構的平面度、臺階高度和平行度進行非接觸式測量時表現好，哪怕面對柔軟嬌貴、極易受損的材料，也能精準探測，毫無壓力。TopMap Metro.Lab 白光干涉儀（3D形貌儀）

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新一代便攜式色彩測量儀（測色儀）
一般的便攜式色彩測量儀器通常能滿足大多數要求，但其性能往往參次不齊。獨立式分光光度儀已成為昨日黃花，既無法您進入色彩測量的未來，也不能確保質量，但全新新一代便攜式色彩測量儀（測色儀）的亮相令人為之側目。

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